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产品名称:
OLYMPUS USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪
产品型号:
USPM-RUⅢ
产品展商:
上海西努光学科技有限公司
简单介绍
ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ是在原ＵＳＰＭ－ＲＵ仪器上开发出的换代产品，是镜片反射率测定仪的新机型。薄镜片也不受背面反射光的影响，能实现高速、高精度的分光测定。
OLYMPUS USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪的详细介绍
概要
ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ是在原ＵＳＰＭ－ＲＵ仪器上开发出的换代产品，是镜片反射率测定仪的新机型。薄镜片也不受背面反射光的影响，能实现高速、高精度的分光测定。
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特征
消除背面反射光
采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。 |
可测定微小领域的反射率
用对物镜对焦于被测面的微小区域(φ60μm)，可测定镜片曲面及镀膜层脱落。
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测定时间短
使用Flat Field Grating(平面光栅)和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。 |
ＸＹ色度图、L*a*b*测定可能
以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。 |
Hard Coat(高强度镀膜)膜厚测定可能
用干涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚(单层膜)。
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| 主要用途 |
| 各种透镜（眼镜透镜、光读取头镜片等） |
反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）
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| 主要规格 |
| 测定波长 | 380nm～780nm | | 测定方法 | 与参照试料的比较测定 | | 被测物N.A. | 0.12(使用10×对物镜时)
0.24(使用20×对物镜时)
※与对物镜的N.A不同 | | 被测物W.D. | 10.1mm(使用10×对物镜时)
3.1mm(使用20×对物镜时) | | 被测物的曲率半径 | -1R～-∞、+1R～∞ | | 被测物的测定范围 | 约φ60μm(使用10×对物镜时)
约φ30μm(使用20×对物镜时) | | 被测物再现性 | ±0.1%以下(2σ)（380nm～410nm测定时）
±0.01%以下(2σ)(410nm～700nm测定时) | | 表示精度 | 1nm | | 测定时间 | 数秒～十数秒(因取样时间各异） | | 光源规格 | 卤灯 12V100W | | 装置重量 | 本体：约20kg(电脑、打印机除外)
光源用电源：约3kg、控制器：约8kg | | 装置尺寸 | 本体：300(W)×550(D)×570(H)mm
光源用电源：150(W)×250(D)×140(H)mm
控制器盒：220(W)×250(D)×140(H)mm | | 电源规格 | 光源用电源：100V (2.8A)/220V AC
控制器盒：100V(0.2A)/220V AC | | 使用环境 | 水平且无振动的场所
温度：23±5℃
湿度：60％以下、无结露 | | 软件 | ■测定参数设定
■分光反射率测定
- 设定参考值(固定值、分散式、可选择文档数据)
- 取样时间设定
- 判定是否合格
- 波长方向刻度
■物体颜色测定
- ＸＹ色度图、L*a*b*色度图
- 标准光源设定(A、B、C、D65)
- 视野设定(2°视野、10°视野)
■膜厚(单层膜)测定
| | *作为特别订货，可对应测定波长为440nm～840nm。 |
本装置不保证为Traceability体系中的绝对精度。 如规格及外观发生变更恕不另行通知，敬请谅解。 |
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