提供了5种行程载物台（100×75mm, 200×100mm,300×100mm,300×150mm,400×200）以供选择，所有型号精度达到3.5+L / 50μm。 (L为测量长度)。
所有测台均使用美国高精度ACU-RITE光学尺。最小分辨率为1μm.
配备大理石基台（650×440×80mm,450×400×80mm）。
SQM测量工具显微镜使用外置Z轴刻度尺，提供多种数显千分尺表头以及高精度线形测微计供您选择（可根据产业不同选择），显示精度因配件而异，由1μm到1.11μm。
应用领域 Applications
◆ 半导体封装 Semiconductor encapsulation
◆ 光纤端子台阶测量 Measurement of height of IC probe, bonding wire,lead frame and etc.
◆ MEMS MEMS
◆ 硬盘滑行磁头 HDD arm
◆ 焊接贴片 SMT
◆ 精密刀具、晶片级CSP、冲压部件注塑部件 Tools/Wafer Level CSP/Punching Components/Molds
SQM测量工具显微镜 最新应用 Recent Application
探针卡 (Probe Card)
案例 Example
标准夏比V型试样缺口检查 Standard Charpy Impact test on Steel(V-notches)
